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2026-07-01 07:16科技

三星HBM4E良率破70% 第七代AI内存进入稳定期

三星电子半导体研究所所长在6月30日的内部经营说明会上透露,第七代AI内存HBM4E的可靠性测试良率已提升至70%以上,标志着其开发正式进入稳定阶段(业界通常将80%视为工艺成熟门槛)。与此同时,三星下一代10纳米级第七代DRAM工艺(D1d)在技术竞争力上已取得对竞争对手的领先优势,并计划于今年11月完成生产准备认证(PRA)。 三星正加速缩小与SK海力士在AI内存领域的差距。
来源:Sammy Fans

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